Учебник. М.: Изд. Техносфера, 2006. – 256 с.
Монография посвящена особенностям конструкции совре­менных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго­дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроско­пии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изобра­жений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (1Р-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов. В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода АЦЗНЕМ1 для анализа дефектов за­мещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.

0

Автор публикации

не в сети 2 месяца

apriori

0
Комментарии: 0Публикации: 215Регистрация: 18-01-2019

Добавить комментарий